未分類 觀看大圖 XRF (X-Ray Fluorescence coating thickness instrument)螢光測厚儀 (X-Ray Fluorescence coating thickness instrument)螢光測厚儀可透過元素之特徵螢光,達到非破壞性量測金屬鍍層厚度及成分比例 (例如:鎳/鈀/金/銀/錫/銅厚度及化學鎳之磷含量)