XRF (X-Ray Fluorescence coating thickness instrument)螢光測厚儀
電洽
(X-Ray Fluorescence coating thickness instrument)螢光測厚儀可透過元素之特徵螢光，達到非破壞性量測金屬鍍層厚度及成分比例 (例如:鎳/鈀/金/銀/錫/銅厚度及化學鎳之磷含量)
